光谱共焦传感器多峰值测量厚度允许范围

光谱共焦传感器多峰值测量厚度允许范围

光谱共焦传感器透明物体单侧厚度测量

源于光谱共焦测量原理，用户可以从一侧测量透明物体的厚度。仅用一支光谱共焦位移传感器，用户可以获得微米级别测量精度。控制器预存可编辑，可扩展的材料库。材料的光学特性，如折射率可以通过网络界面存储和编辑，无需安装额外软件。多峰值测量允许多个峰值，可以测量多层被测物（如夹层玻璃）的厚度。

光谱共焦传感器注意点：

1）被测物反光特性。光谱共焦传感器是同轴测量，对白光光谱分解后，不同的位置会对应不同的光谱成分。所以反光特性对测量影响特别大。可以通过调节曝光时间和测量频率来进行调节。

2）精度的选择。光谱共焦传感器有个特点，精度跟量程有关系。在可能的情况下，选择小的量程会带来更高的测量精度。但是也意味着更高的安装难度。

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